密集光波分复用系统的波长测量技术

（0.8nm）缩小到50GHz（0.4nm）。进一步增加波长数，例如增加到160波以上时将要应用L带（1565-1625nm），即所谓的第4代WDM光通信系统。为了适应波长数不断增加的DWDM系统迅速发展的形势，测量仪表和测量技术也在迎头赶上。例如Ando Electric公司最近推出一系列针对DWDM市场的解决方案。其中有AQ4321A/AQ4321D可调激光源，它不仅光输出功率高，而且波长测量精度高，在1520nm时可达到±0.01nm的测量精度。AQ6317B是测量DWDM系统和部件的高精度、高分辨率的光谱分析仪，它有大的动态范围，并同50GHz光路间隔的L带DWDM系统兼容。还有AQ8423Z光放大器分析仪，它覆盖C带和L带波长，能与AQ6317系统光谱分析仪配套。它可精确地测量噪声指数NF和光链路中光放大器的增益，分隔ASE光噪声和经过光放大器放大的光信号，并能达到最小光路间隔25GHz的最佳效果。当将AQ8423Z与AQ6317B联合使用时可测量多达200个光路的N F图形。最近又推出新的多波长测量仪，一次可完成多达256条光路的波长测量。总之，DWDM系统的测量技术和测试仪表正向着更多波长、更好的波长测量精度和可分辨出更小的光路间隔，即向着能满足未来更高波分密度、更巨大的网络容量的传输设备的要求发展。  

上一页  [1] [2] [3]